Zur Inspektion von Reifenoberflächen in der Linie bietet Micro-Epsilon nun eine besonders kompakte Messanlage. Berührungslos prüft die Anlage Reifen nach der Produktion auf Einschnürungen oder Beulen.
Sie scannt dabei die gesamte Oberfläche und erledigt die Prüfung binnen 1 Sekunde. Bestehende Anlagen können dank der kompakten Baugröße einfach ersetzt werden. Erstmals wird die Anlage auf der Messe tire – technology Expo in Hamburg präsentiert.
Die neue Generation von Reifenprüfanlagen von Micro-Epsilon arbeitet mit drei optischen Linienscannern. Diese überprüfen Reifen in der Linie auf Beulen, Einschnürungen, sowie radialen und axialen Schlag. Geprüft wird die gesamte Oberfläche des Pneus innerhalb einer Sekunde Messzeit. Eine Ausblendung der Schriftzeichen auf dem Reifen geschieht dabei völlig automatisch.
Die neue Baureihe arbeitet mit optimierten Laser-Linien-Scannern der Serie scanCONTROL 2700. Die neuartigen Sensoren besitzen eine spezielle Optik, mit der der Grundabstand auf ein Minimum reduziert wird. Der geringe Grundabstand und die extrem flache Bauweise erlaubt daher eine besonders nahe Messung am Reifen, sodass die gesamte Anlage sehr kompakt ausgeführt ist. Die Kompaktheit wird durch die Integration der gesamten Elektronik in die Anlage unterstrichen. Ein externer Schaltschrank ist nicht mehr notwendig. Damit können ältere Anlagen in der Produktionslinie schnell ersetzt werden.
Weitere Informationen finden Sie im Internet unter http://www.micro-epsilon.de.
 | Das Reifen-Oberflächen-Prüfsystem von Micro-Epsilon im Einsatz. |
 | Hochpräzise, berührungslose Messung. |